diener electronic : SIMS


	SIMS Sekundärionen-Massenspektrometrie, empfindliche Methode zur Analyse dünner Schichten. Hierbei wird eine Oberfläche mit energiereichen Primärionen beschossen, wodurch neben anderen Teilchen auch Sekundärionen aus dem Schichtmaterial emittiert werden. Diese sind direkt mittels Massenspekrometrie detektierbar.

	Home \| Plasmatechnik \| Lexikon \| FAQ \| Plasmaanlagen \| Mietmaschinen \| Lohnbehandlung \| Beratung \| Links/Vertretungen \| Referenzen \| Download \| Messen \| Kontakt \| Anfahrt \| Wir über uns

	© 2005 Diener electronic GmbH + Co. KG